熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計(jì)
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計(jì)器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計(jì)
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
-
MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器 能夠使LED的光學(xué)特性評價(jià)與生產(chǎn)線的控制信號同步，在線內(nèi)高速進(jìn)行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質(zhì)量管理所必需的光學(xué)特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器MCPD-9800
-
MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應(yīng)從紫外到近紅外領(lǐng)域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進(jìn)行分光光譜測定。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備光纖可支持多種測量系統(tǒng)，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發(fā)光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結(jié)合，也能夠應(yīng)對物體顏色評價(jià)、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
-
MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應(yīng)從紫外到近紅外領(lǐng)域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進(jìn)行分光光譜測定。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備光纖可支持多種測量系統(tǒng)，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發(fā)光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結(jié)合，也能夠應(yīng)對物體顏色評價(jià)、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢
-
IL100 OTSUKA大冢-照度測量系統(tǒng) 從分光放射照度測定中高精度地測定照度。 ·從紫外到可見、紅外的廣泛測量波長范圍。 ·可以選擇高斜入射特性等用途的照度頭。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以測定。 ·專用軟件點(diǎn)亮電源也統(tǒng)一控制。 OTSUKA大冢-照度測量系統(tǒng)IL100OTSUKA大冢-照度測量系統(tǒng)IL100OTSUKA大冢 是對基本的照度測定進(jìn)行極限探究的裝置
-
GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 1000UV
-
GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 600UV0UV
-
GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng) 紫OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UV
-
GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng) 紫外LED的配光特性.。 ·根據(jù)放射強(qiáng)度/放射光照度的配光評價(jià)。 ·通過分光配光評價(jià)每個(gè)波長的放射強(qiáng)度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-510U
-
GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng) 紫外LED的配光特性.。 ·根據(jù)放射強(qiáng)度/放射光照度的配光評價(jià)。 ·通過分光配光評價(jià)每個(gè)波長的放射強(qiáng)度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
-
GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng) 紫外LED的配光特性.。 ·根據(jù)放射強(qiáng)度/放射光照度的配光評價(jià)。 ·通過分光配光評價(jià)每個(gè)波長的放射強(qiáng)度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-500
-
GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng) 紫外LED的配光特性.。 ·根據(jù)放射強(qiáng)度/放射光照度的配光評價(jià)。 ·通過分光配光評價(jià)每個(gè)波長的放射強(qiáng)度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
-
FM-9015UV OTSUKA大冢-UV測定裝置 OTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UV
